非接觸式金屬膜厚測量?jì)x通常用于測量金屬薄膜的厚度,例如在半導體、涂料、電子元件制造等領(lǐng)域中。它可以通過(guò)使用光學(xué)或放射性技術(shù)來(lái)測量薄膜的厚度,并且不需要與被測物體接觸,從而避免了可能對樣品造成的損傷或污染。
原理:
非接觸式金屬膜厚測量?jì)x主要通過(guò)測量被測物表面反射的光強來(lái)確定金屬膜的厚度。該測量?jì)x使用一個(gè)激光或LED發(fā)射器照射被測物表面,然后測量反射光的強度并將其轉換為金屬膜的厚度數據。該測量方法具有高精度、高速度和非接觸等優(yōu)點(diǎn),適用于金屬薄膜的厚度測量。
非接觸式金屬膜厚測量?jì)x常見(jiàn)故障及處理方法:
故障:讀數不穩定或不準確
處理方法:檢查是否存在干擾源,例如強磁場(chǎng)、震動(dòng)等。還可以校準儀器或更換探頭。
故障:顯示屏無(wú)法顯示或出現亂碼
處理方法:檢查電源和信號線(xiàn)連接是否正常,嘗試重啟設備。如果問(wèn)題仍然存在,則可能需要更換顯示屏或主板。
故障:探頭損壞或失靈
處理方法:更換探頭,并進(jìn)行校準操作以確保測量的準確性。
故障:儀器運行異?;驘o(wú)法開(kāi)機
處理方法:檢查電源連接是否正常。如果電源正常但仍無(wú)法開(kāi)機,則可能需要維修或更換主板或其他內部組件。
故障:測量范圍超出限制或無(wú)法調整
處理方法:檢查儀器的規格參數,了解其測量范圍。如果超出了其測量范圍,則需要使用適合范圍的儀器。如果無(wú)法調整,則可能需要校準或更換部件。