高分辨率波前分析儀/波前傳感器/波前相差儀

400X300高分辨率、500um高動(dòng)態(tài)范圍、高性?xún)r(jià)比、同時(shí)檢測波前與M^2波前傳感器！

關(guān)鍵詞：波前傳感器、波前分析儀、波前像差儀、傳感器、波前測試儀、波前探測器、激光波前分析儀、哈特曼波前分析儀、虹膜定位、哈特曼波前傳感器、波前象差、高分辨率波前分析儀、波前測量?jì)x、激光光束及波前分析儀、夏克 哈特曼、鏡頭MTF

公司自主研發(fā)的波前傳感器是基于四波橫向剪切干涉技術(shù)。SID4系列波前分析儀相較傳統的夏克-哈特曼波前探測器具有高分辨率、消色差、高靈敏度、高動(dòng)態(tài)檢測范圍、操作簡(jiǎn)便等*的優(yōu)勢。為波前像差、波前畸變的檢測以及激光光束及波前的測量、分析，眼科虹膜定位波前像差引導等提供了全新的解決方案！波前探測器配套的軟件界面友好，可直觀(guān)的輸出高分辨率相位圖和光束強度分布圖。 

高分辨率波前分析儀/波前傳感器/波前相差儀

波前傳感器生產(chǎn)廠(chǎng)家具有雄厚的技術(shù)研發(fā)實(shí)力，能為客戶(hù)提供的各種自適應光學(xué)系統OA-SYS(Adaptive Optics Loops)，制定個(gè)性化解決方案?？筛鶕蛻?hù)的應用需求，為客戶(hù)推薦zui合適的SID4波前傳感器、可變形鏡或空間光調制器、自適應光學(xué)系統操作軟件等。

圖1 波前校正前與校正后對比

波前探測器依據其四波橫向剪切干涉技術(shù)，對哈特曼掩模技術(shù)進(jìn)行了大的升級、改進(jìn)。波前傳感器將400X300的超高分辨率和500um的超大動(dòng)態(tài)范圍*結合在了一起?？梢詽M(mǎn)足不同的客戶(hù)的應用需求，可對激光光束進(jìn)行光強、位相、PSF（點(diǎn)擴散函數）、MTF（調制傳遞函數）、OTF（光學(xué)傳遞函數）、波前像差、M^2等進(jìn)行實(shí)時(shí)、簡(jiǎn)便、快速的測量。

*部   產(chǎn)品介紹

SID4 UV-HR高分辨紫外波前傳感器

公司將 SID4的波前測量波長(cháng)范圍擴展到190nm-400nm。SID4 UV-HR是一款適用于紫外波段的高分辨率波前傳感器,非常適用于光學(xué)元件測量（例如印刷、半導體等等）和表面檢測（半導體晶片檢測等）。

特點(diǎn)：

u  高分辨率（250x250）

u  通光孔徑大（8.0mmx8.0mm）

u  覆蓋紫外光譜

u  靈敏度高（0.5um）

u  優(yōu)化信噪比

圖2 SID4-UV波前分析儀

SID4 波前傳感器

可用于400nm-1000nm 的激光的波前位相、強度分布，波前像差，激光的M2，澤尼克參數等進(jìn)行實(shí)時(shí)的測量及參數輸出。

特點(diǎn)：

Ø  波長(cháng)范圍：400-1100nm

Ø  分辨率高（160x120）

Ø  消色差

Ø  測量穩定性高

Ø  對震動(dòng)不敏感

Ø  操作簡(jiǎn)單

Ø  結構緊湊，體積小

Ø  可用筆記本電腦控制

圖3 SID4位相檢測

可用于檢測各種透鏡，光學(xué)系統的檢測，可以對透鏡、光學(xué)系統的進(jìn)行實(shí)時(shí)的PSF（點(diǎn)擴散函數）、MTF（調制傳遞函數）、OTF（光學(xué)傳遞函數）、波前像差測量及參數輸出。相對于傳統的透鏡檢測設備像：傳函儀、干涉儀，具有操作簡(jiǎn)便，測量精度高，參數輸出方便等優(yōu)點(diǎn)，正在被越來(lái)越多的客戶(hù)推崇。

特點(diǎn)：

u  波長(cháng)范圍：400-1100nm

u  高性能的相機，信噪比高

u  實(shí)時(shí)測量，立即給出整個(gè)物體表面的信息（120000個(gè)測量點(diǎn)）

u  曝光時(shí)間極短,保證動(dòng)態(tài)物體測量

u  操作簡(jiǎn)單

圖4 SID4-HR

圖5 SID4-HR傳遞函數檢測

SID4 NIR 波前分析儀

主要針對1550 nm（1.5um-1.6um）激光的檢測，具有分辨率高高靈敏度、高動(dòng)態(tài)范圍、操作簡(jiǎn)便等*的優(yōu)勢?？捎糜诠鈱W(xué)測量，SID4 NIR是測量紅外物體和紅外透鏡像差、PSF、MTF和焦距及表面質(zhì)量的理想工具。

特點(diǎn)：

²  高分辨率（160x120） 

²  快速測量 

²  性?xún)r(jià)比高

²  測量

²  對振動(dòng)不敏感

圖6 SID4 NIR激光波前檢測

SID4 DWIR 波前儀

具有寬波段測量的特點(diǎn)?？梢詫?shí)時(shí)的檢測3-5um和8-14um的波前位相，強度分布等響應的波前信息?？梢院芎玫臐M(mǎn)足紅外波段客戶(hù)的波前檢測需求。

特點(diǎn)：

u  光學(xué)測量：SID4 DWIR是測量紅外物體特性（熱成像和安全視覺(jué)）或紅外透鏡（CO2激光器）的理想工具，輸出結果包括MTF，PSF，像差，表面質(zhì)量和透鏡焦距。

u  光束測量：（CO2激光器，紅外OPO激光光源等等）SID4 DWIR提供詳盡的光束特性參數：像差，M2，光強分布，光束特性等

u  高分辨率（96x72）

u  可實(shí)現測量

u  可覆蓋中紅外和遠紅外波段 大數值孔徑測量，無(wú)需額外中轉透鏡

u  快速測量 對振動(dòng)不敏感

u  可實(shí)現離軸測量

u  性?xún)r(jià)比高

圖7SID4 DWIR

SID4產(chǎn)品型號參數匯總

第二部       控制軟件

SID4波前分析儀控制軟件

SID4波前分析儀控制軟件與SID4 波前傳感器配套提供的是一款完整的分析軟件，其集成了高分辨率的相位圖與強度分布圖，測量光強分布和波前信息。

借助Labview和C++ 可編程模塊數據庫（軟件二次開(kāi)發(fā)工具包），客戶(hù)能夠根據自身的需要編寫(xiě)各種相位測量與編譯模塊。

Adaptive Optics Loops將SID4 Wavefront Sensor結合您的應用，選配合適的可變形鏡或相位調制器，提供整套的自適應光學(xué)系統。減小任何一個(gè)光學(xué)系統的相差從來(lái)都不是簡(jiǎn)單的，我們的產(chǎn)品能為激光光束和成像系統帶來(lái)更可靠，高精度的解決方案。

圖8 SID4控制界面

SID4光學(xué)測量軟件Kaleo

基于剪切干涉的波前傳感器與專(zhuān)門(mén)設計的光學(xué)測量軟件Kaleo結合，可以測量球面鏡和非球面鏡的像差及MTF等信息。只需要幾秒鐘，我們的儀器為您呈現絕大部分的光學(xué)參數，如焦距，光腰，MTF，像差，Zernike系數，曲率半徑，PSF等。

第三部       與傳統哈特曼波前分析儀比較

與傳統哈特曼波前傳感器測量結果對比：

技術(shù)參數對比：

第四部  應用領(lǐng)域

Ø 激光、天文、顯微、眼科等復雜自適應光學(xué)系統波前像差檢測

Ø 激光光束性能、波前像差、M^2、強度等的檢測

Ø  紅外、近紅外探測

Ø 平行光管/望遠鏡系統的檢測與裝調

Ø 衛星遙感成像、生物成像、熱成像領(lǐng)域

Ø  球面、非球面光學(xué)元器件檢測 (平面, 球面, 透鏡)

Ø  虹膜定位像差引導

Ø 大口徑高精度光學(xué)元器件檢測

Ø  激光通信領(lǐng)域

Ø  航空航天領(lǐng)域