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光腔衰蕩光譜測量系統

簡(jiǎn)要描述:光腔衰蕩光譜方法(CRDS, Cavity Ring-Down Spectroscopy)是一種基于高精細度諧振腔的高靈敏度探測技術(shù),主要用于精確測量各種反射率大于99%的超高反射率反射鏡的反射率,測量精度可達百萬(wàn)分之一量級!光腔衰蕩光譜測量系統

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  • 更新時(shí)間:2021-06-02
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光腔衰蕩光譜方法(CRDS, Cavity Ring-Down Spectroscopy)是一種基于高精細度諧振腔的高靈敏度探測技術(shù),主要用于精確測量各種反射率大于99%的超高反射率反射鏡的反射率,測量精度可達百萬(wàn)分之一量級!

 

光腔衰蕩光譜方法通過(guò)對指數型的腔內衰蕩信號的檢測,擺脫了激光能量輸出的起伏所引起的誤差。由兩片99.99% 反射率組成的光腔對損耗的測量精度可達ppm量級。

 

應用領(lǐng)域:

高反射鍍膜層損耗的精密測量

正入射反射率R>>99%的平面或凹面光學(xué)元件的損耗測量

精度dR/R<2ppm @ R>99.5%

檢測用激光波長(cháng)可選(如355nm…532nm…633nm…1064nm…1319nm

 

測量原理:

脈沖光或快速開(kāi)關(guān)的連續光耦合進(jìn)諧振腔

待測膜層在每次往返光程中經(jīng)反射產(chǎn)生損耗

時(shí)間相關(guān)的輸出信號的精確測量得到衰蕩數據

脈沖光往返時(shí)間已知,根據衰蕩的時(shí)間特點(diǎn),得到反射率

 

技術(shù)指標:

測量反射率:    R>>99%

精度:              dR/R < 2ppm @ R>99.5%

樣品/基底要求*:  ø1”Or 0.5”, 厚度~6mm

基底透明,后表面平面拋光

*0o正入射測量,其他要求可訂制。

供電電源:

激光器              100~240VAC, 50~60Hz

探測器              +/-9 VDC

接口:              USB 2.0

含數據采集, A-D轉換,數據處理等模塊。軟件包括反射率分析、生產(chǎn)數據錄入及處理等。

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