Nanobase50萬(wàn)RMB！高速大面積共聚焦拉曼成像系統采用透射式光路設計，提高了產(chǎn)品的靈敏度和穩定性。*的振鏡掃描技術(shù)能夠在臺面固定不動(dòng)的情況下實(shí)現快速二維成像掃描。該技術(shù)在聯(lián)用光電流成像系統載臺時(shí)優(yōu)勢明顯，并且可擴展增加熒光壽命檢測系統。

XperRam C series是基礎款，采用一個(gè)532nm激光器激發(fā)，集成了奧林巴斯顯微鏡，可以測量樣品的Raman/PL的光譜信號和mapping（Image）圖像。光譜信號強，掃描速度快，。

50萬(wàn)RMB！高速大面積共聚焦拉曼成像系統

系統光路

拉曼成像mapping

                                     (a)     MoS2 sample microscope image                 (b)50x50µm size 0.3µm step Intensity  image

                                       (c)     30x30µm size 0.1µm step Intensity image    (d)30x30µm size 0.1µm step Frequency image

產(chǎn)品特點(diǎn)

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• 具有優(yōu)異的掃描分辨率和重復性

（激光掃描分辨率< 0.02 um & 重復性< 0.1 μm）

• 體相全息光柵光譜儀（光透過(guò)率>90%,比反射式光柵高30%,信號傳輸效率更高）

• 具有Raman/PL等多種測量模式,可擴展為光電流成像功能

• 結構緊湊,模塊化設計

• 掃描速度快,掃描范圍大200µm x 200µm范圍內高速成像 & 2D Mapping

應用領(lǐng)域

石墨烯，二維材料，生物樣本，半導體工業(yè)，碳納米管，碳材料，太陽(yáng)能電池，儲能材料，納米纖維分布，探測器光電性能檢測，晶圓體分析，制藥分析，納米材料檢測，生物細胞成像，微塑料檢測，金剛石微粉檢測。

基本參數

使用Nanobase XperRam Compact系列拉曼成像光譜儀發(fā)表的部分文獻：

1. Ising-Type Magnetic Ordering in Atomically Thin FePS3gnetic Ordering in Atomically Thin FePS3
影響因子： 12.08 期刊名稱(chēng)： NANO Letters（2016） ， 作者單位： 首爾國立大學(xué)物理與天文學(xué)系， 通訊作者： Hyeonsik Cheong
2. Electrically conductive cement mortar: Incorporating rice husk-derived high-surface-area graphene
期刊名稱(chēng)： Construction and Building Materials（2016） ， 作者單位： 全南國立大學(xué)高分子科學(xué)與工程學(xué)院， 通訊作者： Ji Hoon Kim
3. Wafer-Scale van der Waals Heterostructures with Ultraclean Interfaces via the Aid of Viscoelastic Polymer
影響因子： 8.097 期刊名稱(chēng)： ACS Applied Materials and Interfaces（2018） ， 作者單位： 成均館大學(xué)， 通訊作者： Young Hee Lee