| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應用領(lǐng)域 | 環(huán)保,電子 | 精度 | 0.01nm或0.01% |
膜厚測量?jì)x（測量厚度1nm~1.8mm）MPROBE - MAKING THIN FILMS THICKNESS MEASUREMENT EASY
美國Semisonsoft公司MProbe系列薄膜測厚儀測量厚度可以低至1nm，厚至1.8mm，埃級分辨率，非接觸式無(wú)損快速測量。廣泛應用在各種生產(chǎn)或研究中，比如測量薄膜太陽(yáng)能電池的CIGS層，觸摸屏中的ITO層等。大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量
測量原理：當規定波長(cháng)范圍的光照射到薄膜上時(shí)，從不同界面上反射的光相位不同，從而引起干涉導致強度相長(cháng)或相消。而這種強度的振蕩是與薄膜的結構相關(guān)的。通過(guò)對這種振蕩擬合和傅里葉變換就可獲得樣品厚度和相關(guān)的光學(xué)常數。
比如：
半導體（硅，單晶硅，多晶硅）
半導體化合物（AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS）
微電子機械（MEMS）
氧化物/氮化物
光刻膠
硬涂層（碳化硅，類(lèi)金剛石炭）
聚合物涂層（聚對二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺）
高分子聚合物
MProbe膜厚測量?jì)x（測量厚度1nm~1.8mm）操作簡(jiǎn)單，只需一鍵操作即可獲得樣品的厚度、折射率（n, k）和表面粗糙度等信息，膜厚測量設備可支持不同光譜范圍，光譜范圍可達200-1700nm，因此可測量厚度范圍可從1nm到2mm。 設備中無(wú)移動(dòng)組件，所以測量結果幾乎是即時(shí)得到的；TFCompanion測量軟件使得測量過(guò)程非常簡(jiǎn)單且透明，測量歷史、動(dòng)態(tài)測量、模擬、顏色分析、直接在樣品圖像上顯示結果。
膜厚測量?jì)x分類(lèi)：
1、單點(diǎn)膜厚測量——MPROBE-20
MPROBE-20膜厚測量?jì)x是一款臺式單點(diǎn)膜厚測量設備，設備操作簡(jiǎn)單，一鍵獲得樣品的厚度和折射率，并可提供不同波段范圍（適用于不同厚度薄膜）選擇。MPROBE-20具有以下幾種型號，客戶(hù)可根據自己所需的波長(cháng)范圍和薄膜厚度進(jìn)行選擇。
可供選擇型號：
| 型號 | 波長(cháng)范圍 | 核心配置 | 厚度范圍 |
| VIS | 200nm -1100nm | F3 Ariel Spectrometer, 2048/4096 pix cmos, 16 bit ADC, 5W Tungsten-Halogen lamp | 10nm – 75 μm |
| UVVISSR | 700nm -1100nm | F4 Spectrometer, 2048 pix (backthinned),16 bit ADC 20W TH lamp, 30W Deuterium short-ark lamp | 1nm -75μm |
| VIS-HR | 900nm-1700nm | F4 Spectrometer, 2048 pix (backthinned),16 bit ADC, 5W TH lamp | 1μm-400μm |
| NIR | 200nm-800nm | F4 spectrometer, InGaAs detector 512 pix., 16 bit ADC, 5W TH lamp | 50nm – 85μm |
| UVVisF | 200nm -1700nm | F4 spectrometer, Si detector 2048 pixels ccd, 16 bit ADC, 10W Xe flash lamp | 1nm – 5μm |
| UVVISNIR | 1500nm-1550nm | F4 Spectrometer, 2048pix (backthinned),16 bit ADC 20W TH lamp, 30W Deuterium short-ark lamp. F4spectrometer, InGaAs detector 512 pix., 16 bit ADC, 5W TH lamp | 1nm -75μm |
| NIRHR | 200nm -1100nm | F4 spectrometer, InGaAs detector 512 pix., 16 bit ADC, 5W TH lamp or SLDoption | 10μm-1800μm (glass)4μm-400μm (Si) |
2、單點(diǎn)手持膜厚測量——MPROBE HC
MPROBE HC膜厚測量?jì)x是一款基于MPROBE-20平臺開(kāi)發(fā)專(zhuān)用于測量曲面和大型零件上的涂層，用手動(dòng)探針代替樣品臺。
主要參數：
| 精度 | 0.01nm或0.01% |
| 準確度 | 0.2%或1nm |
| 穩定性 | 0.02nm或0.03% |
| 聚焦點(diǎn)尺寸 | 0.2mm或0.4mm |
| 樣品尺寸 | >25mm |
| 厚度范圍 | 0.05-70um |
3、聚焦光斑膜厚測量?jì)x——MPROBE 40
MPROBE 40是一款聚焦的小光斑膜厚測量系統，該產(chǎn)品將顯微系統和膜厚測量設備結合起來(lái)，用于對膜厚的微區測量，光斑可達2μm。該設備集成相機和軟件，可精確顯示待測位置，并同時(shí)顯示測量結果。
該設備有不同波長(cháng)范圍可選，可供選擇的產(chǎn)品型號如下：
4、原位測量膜厚測量?jì)x——MPROBE 50 INSITU
MPROBE 50 INSITU是一款支持原位測量膜厚測量?jì)x，該設備采用門(mén)控數據采集方式因此可以在高環(huán)境光的條件下工作。此外該型號膜厚測量?jì)x支持定制以滿(mǎn)足不同形狀的真空腔。根據可用的光學(xué)窗口，支持斜入射和垂直入射。光線(xiàn)可以聚焦樣品表面或準直,探測探頭可以放置在沉積室光學(xué)端口內部或外部，由于該膜厚測量?jì)x沒(méi)有移動(dòng)部件，通常測量時(shí)間約10ms。
此外該型號還有多種波段范圍可選，可供選擇型號如下
5、支持Mapping的聚焦膜厚測量?jì)x——MPROBE 60
MPROBE 60是一款聚焦并可做mapping的膜厚測量設備，重復精度可達0.01nm，精度可達1nm，mapping面積可達300*300mm。并支持多種波長(cháng)范圍可選。
可選波長(cháng)型號：
6、在線(xiàn)膜厚測量?jì)x——MProbe 70
MProbe 70是一款高性能膜厚測量?jì)x，主要設計用于24/7生產(chǎn)線(xiàn)上的連續測量。該設備主要有兩種配置一個(gè)是在產(chǎn)線(xiàn)上配備多個(gè)固定的探頭，第二種是將探頭裝在掃描儀上掃描。
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