| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應用領(lǐng)域 | 環(huán)保,電子 | 波長(cháng)范圍 | 390～700 nm |
高效率熒光壽命成像系統
高效率熒光壽命成像系統或FLIM是基于熒光樣品中不同區域的熒光的指數衰減速率的差異。 由τ決定熒光壽命成像的每個(gè)像素的強度，這使研究 人員可以查看具有不同熒光衰減率的材料之間的對比度，還可以產(chǎn)生顯示其他衰減路徑變化的圖像。 可以通過(guò)使用脈沖源在時(shí)域中確定熒光壽命。 當熒光物質(zhì)被超短脈沖激發(fā)時(shí)，時(shí)間分辨的熒光將呈指數衰減。 時(shí)間相關(guān)單光子計數（tcspc）通常被用作熒光壽命的測量方法，因為它補償了在源強度和單光子的脈沖幅度的變化。 更具體地說(shuō)，TCSPC由單個(gè)光子雪崩光電二極管 （SPAD）記錄相對于激發(fā)激光脈沖的單個(gè)光子的壽命。 重復記錄多個(gè)激光脈沖，并在記錄了足夠多的事件后，研究人員能夠建立所有這些記錄的時(shí)間點(diǎn)上事件數量的直方圖。 然后，可以將該直方圖擬合到的指數壽命衰減函數的指數函數，并且可以相應地提取壽命參數。 Xper-FLIM配備了單光子雪崩二極管檢測系統，可以提供低成本檢測通道選項，從而為FLIM研究人員實(shí)現超 快速分析。 Xper-FLIM也可用于倒置顯微鏡或正置顯微鏡，滿(mǎn)足其他應用需求。
應用領(lǐng)域：
熒光壽命成像的原理：
測試案例：
規格參數：
顯微鏡 | - -反射LED照明器，用于明場(chǎng) - -帶有右手控制的機械X-Y載物臺 - -自動(dòng)控制的Z軸位置 - -包括主機架，平臺板，控制箱，接口電纜，電源線(xiàn) - -40倍物鏡（其他選項：10倍，20倍，50倍和100倍） - -正置或倒置顯微鏡 |
| 掃描模塊 | - -波長(cháng)范圍：400～1000 nm - -激光掃描模式：壓電掃描 - -掃描范圍：200μm×200μm（使用40倍物鏡時(shí)） - -包括用于光學(xué)圖像采集的15 MP攝像頭（使用40X時(shí)，FOV：220μm×150μm） - -包含一個(gè)控制器（USB1.1） - -掃描速度：> 100行/秒 |
| 光源 | 皮秒脈沖二極管激光器和驅動(dòng)器 -波長(cháng)：390～700 nm -自由空間/光纖耦合選擇（可選） |
| 濾波片 | 選擇與激光波長(cháng)相對應的濾光片 - -波長(cháng)范圍：390～700 nm - -可在濾光鏡盒中互換用于相應的激光器 |
| 機身 | - -1個(gè)插槽，用于連接激光中性密度（ND）濾鏡或偏振鏡 - -2個(gè)用于連接偏振片或波片的插槽 - -1個(gè)插槽，用于連接可互換的濾波片套件 - -具有三個(gè)激光器空位。 - -可安裝光纖耦合端口。 - -提供穩定的光束對準平臺 |
| 探測器 | 光子檢測效率 - 24 % at 400 nm - 49 % at 550 nm - 37 % at 650 nm - 有效區域直徑：50μm - 暗計數：<250，<100，<50，<25 cps（取 決于探測器的等級） -NIM定時(shí)輸出：50 ps - 脈沖后可能性：<3％ |
| 光源驅動(dòng) | -重復頻率：31.25 kHz～80 MHz -觸發(fā)：-1至+1 V電平（可調） -頻率范圍：10 Hz～80 MHz -同步輸出：幅度<0.8 mV到50歐姆 |
| 計數器 | 計時(shí)電路 - -檢測通道：1或2 - -時(shí)間范圍：25 ps - -觸發(fā)：0～-1200 mV - -計數率：40 MHz - -標記：TTL x4 |
| 軟件 | - -熒光壽命采集和成像 - -頻譜數據導出格式：.txt，.csv - -2D映射數據導出格式：.spm，.csv |
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