金年会金字招牌诚信至上_微小區域薄膜厚度測量?jì)xMPROBE 40 MSP-上海昊量光電設備有限公司

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微小區域薄膜厚度測量?jì)x	MPROBE 40 MSP

微小區域薄膜厚度測量?jì)x-MPROBE 40 MSP

MProbe 40 測量薄膜厚度和折射率單擊鼠標在小地方。顯微分光光度計 (MSP) 集成在系統中同時(shí)結合顯微鏡，用于小點(diǎn)薄膜厚度測量，用于數千種應用程序，并提供完整的標準模型系列來(lái)支持它們。微小區域薄膜厚度測量?jì)x-MPROBE 40 MSP可以快速可靠地測量 1 納米到 2 毫米的厚度，包括多層薄膜堆疊。不同的模型主要由光譜儀的波長(cháng)范圍和分辨率來(lái)區分，這反過(guò)來(lái)又決定了可以測量的厚度范圍。

<strong><strong>微小區域薄膜厚度測量?jì)x</strong>-MPROBE 40 MSP</strong>

應用：

1. 測量圓柱或曲面上薄膜厚度：注射器、支架、銷(xiāo)釘、電線(xiàn)等。即使在高度彎曲的表面上，小點(diǎn)也會(huì )產(chǎn)生平坦的場(chǎng)以實(shí)現精確測量。

2. 不均勻、粗糙的涂層或光散射材料，如高霧度或納米粒子注入薄膜。小光斑定位測量有效地減少光散射和不均勻性的影響

3.圖案晶圓、MEMS 和其他需要高靈敏度領(lǐng)域的小區域測量的應用。

基本規格：

精度	0.01nm或0.01%
準確度	0.2%或1nm
穩定性	0.02nm或0.03%
聚焦點(diǎn)尺寸	0.2mm或0.4mm
樣品尺寸	>20mm
厚度范圍	0.05-70um
波長(cháng)范圍	400-1000nm

選型列表：

MProbe 40	波長(cháng)范圍	厚度范圍
VIS	400nm -1100nm	10nm – 75 μm
UVVISSR	200nm -1100nm	1nm -75μm
VISHR	700nm-1100nm	1μm-400μm
NIR	900nm-1700nm	50nm – 85μm
UVVisF	200nm -1700nm	1nm – 85μm
UVVISNIR	200nm-800nm	1nm -5μm
NIRHR	1500nm -1550nm	10μm-1800μm (glass)4μm-400μm (Si)

*可根據要求設計定制探頭

關(guān)于昊量光電：

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上海昊量光電設備有限公司專(zhuān)注于光電領(lǐng)域的技術(shù)服務(wù)和產(chǎn)品銷(xiāo)售。致力于引進(jìn)國外優(yōu)質(zhì)的光電器件制造商的技術(shù)與產(chǎn)品，為國內客戶(hù)提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品與服務(wù)。我們力爭在原產(chǎn)廠(chǎng)商與客戶(hù)之間搭建起溝通的橋梁與合作的平臺。

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微小區域薄膜厚度測量?jì)x

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