| 品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 應用領(lǐng)域 | 生物產(chǎn)業(yè),電子,綜合 |
| 薄膜厚度均勻度測量系統 | MPROBE 60 |
薄膜厚度均勻度在線(xiàn)測量系統-MPROBE 60
MProbe 60 是一站式系統，專(zhuān)為研發(fā)中心和小型制造而設計。它結合了測量厚度/n&k 與自動(dòng)化小點(diǎn)測量的能力。MProbe 60 已應用于研發(fā)納米技術(shù)中心?？梢钥焖倏煽康販y量 1 nm至 2 mm的厚度，包括多層薄膜堆疊。不同的MProbe 60 型號主要受光譜儀的波長(cháng)范圍和分辨率影響，進(jìn)而決定了可測量的厚度范圍。
薄膜厚度均勻度測量系統-MPROBE 60的優(yōu)勢：
1.具有靈活和模塊化的映射自動(dòng)化的一站式系統
2.精度<0.01nm 或 0.01%
3.500+ 擴展材料數據庫
4.軟件：用戶(hù)友好且功能豐富的 TFCompanion 軟件甚至可以處理zui復雜的應用程序。層數沒(méi)有限制，支持背面反射、表面粗糙度、暗度等等。集成的相機和成像軟件允許精確定位測量位置并直接在圖像上顯示結果
薄膜厚度均勻度在線(xiàn)測量系統-MPROBE 60選型列表：
MProbe 60 | 波長(cháng)范圍 | 厚度范圍 |
VISLX | 400nm -1000nm | 10nm – 75μm |
UVVisSR | 200nm-1000nm | 1nm-75μm |
UVVisF | 200nm-900nm | 1nm – 5μm |
VISHR | 700nm -1100nm | 1μm – 400μm |
NIR | 900nm-1700nm | 50nm -100μm |
VISNIR | 400nm -1700nm | 10nm-100μm |
UVVISNIR | 200nm-1700nm | 1nm-100μm |
NIRHR | 1530nm-1580nm | 25μm-2000μm |
關(guān)于昊量光電：
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