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在線(xiàn)薄膜厚度實(shí)時(shí)測量?jì)x系統 | MPROBE 70 |
在線(xiàn)薄膜厚度實(shí)時(shí)測量?jì)x系統-MPROBE 70
在線(xiàn)薄膜厚度實(shí)時(shí)測量?jì)x-MPROBE 70是一種高性能厚度測量系統。在線(xiàn)薄膜厚度實(shí)時(shí)測量?jì)x-MPROBE 70基于光譜反射率和/或透射率測量,專(zhuān)為產(chǎn)線(xiàn)的連續測量而設計。一些示例包括卷對卷生產(chǎn)中的卷材測量(薄膜和涂層的厚度)、建筑玻璃生產(chǎn)(反射率、透射率和顏色坐標)、軋制金屬板(油或涂層厚度)等等。我們的厚度測量系統有效地測量薄膜和厚片,具有多層分辨力;透明、彩色和有色薄膜;有機或水性涂料和粘合劑。在線(xiàn)薄膜厚度實(shí)時(shí)測量?jì)x-MPROBE 70與其他聚合物(如 PR、PP 和離聚物)同時(shí)測量阻隔膜(如尼龍、EVOH 或 PVD)的厚度。聚合物、玻璃、金屬、塑料、半導體和其他無(wú)孔材料上的涂層厚度。
在線(xiàn)薄膜厚度實(shí)時(shí)測量?jì)x系統-MPROBE 70的優(yōu)勢:
1.配置靈活:與PC或PLC集成
2.TCP-IP (1Gb) 快速可靠的通信
3.針對應用需求定制的系統配置
4.不同型號取決于波長(cháng)、厚度范圍和測量速度
5.固件嵌入式數據分析選件(內置 TFC)可實(shí)現超快速測量
6.在波長(cháng)范圍內測量反射和/或透射光譜
7.可選參數測量
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