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紅外輻射顯微成像系統(微觀(guān)溫度分布成像)

簡(jiǎn)要描述:紅外輻射顯微成像系統(微觀(guān)溫度分布成像):IRLabs的IREM-IV紅外顯微鏡系統使您能夠更快、更準確、更可靠地進(jìn)行半導體故障分析和調試。

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠(chǎng)商性質(zhì):代理商
  • 更新時(shí)間:2024-06-12
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紅外輻射顯微成像系統(微觀(guān)溫度分布成像)


IRLabs的IREM-IV紅外顯微鏡系統使您能夠更快、更準確、更可靠地進(jìn)行半導體故障分析和調試。


IREM-IV相機提供超低噪聲擴展波長(cháng)PEM成像,在工作電壓為400 mV的10 nm設備上具有經(jīng)驗證的發(fā)射成像靈敏度。自行設計和制造的相機,用于低維護操作,,包括6位透鏡轉盤(pán)和超過(guò)20小時(shí)的LN2持續制冷時(shí)間。光學(xué)擴展端口為外部激光掃描OBIRCH、LADA、TIVA和其他成像模式提供了升級路徑。


3.3NA SIL物鏡是定制設計的透鏡家族中的新產(chǎn)品,經(jīng)過(guò)優(yōu)化,可在整個(gè)視場(chǎng)上提供衍射限制成像。自對準SIL可自動(dòng)調平,以符合被測設備的局部輪廓。彎曲設計提供了低的接觸力,因此適用于成像安裝器件或裸晶圓。


集成輪廓傳感器,測量器件表面輪廓,高度分辨率優(yōu)于10 um。使用與精密x-y-z平臺集成的傾斜臺,可以直接測量和補償從翻轉邊緣或器件彎曲產(chǎn)生的局部表面傾斜。跟自對準SIL相結合,以實(shí)現安全可靠的SIL成像。


擴展波長(cháng)PEM成像通常是熱背景噪聲受限的。IREM-IV提供兩個(gè)內部冷卻的濾光輪,因此光譜濾光器或背景限制孔徑適用于任何測量場(chǎng)景。


紅外輻射顯微成像系統(微觀(guān)溫度分布成像)指標參數:


相機                                                                                                       運動(dòng)系統


●   1016×1016 液氮制冷MCT陣列                                                          ●   25nm分辨率

●   像元尺寸 18um                                                                                 ●   100mm運動(dòng)范圍 (X-Y-Z)

●   400-2500nm 光譜響應范圍                                                               ●    阻尼振動(dòng)隔離

●   6個(gè)位置自動(dòng)物鏡轉盤(pán)                                                                         ●    電動(dòng)樣品傾斜選項

●   6個(gè)位置制冷濾光片/孔徑轉輪

●   大于20小時(shí)液氮維持時(shí)間


系統尺寸


●   顯微鏡   810mm x 876mm x 813mm, 160kg

●   控制系統  610mm x 1283mm x 762mm,90kg


物鏡選項:

參考圖例


**詳細技術(shù)參數可參考Datasheet或咨詢(xún)上海昊量光電設備有限公司。


更多詳情請聯(lián)系昊量光電/歡迎直接聯(lián)系昊量光電

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