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Micro-LED晶圓臺測試系統

簡(jiǎn)要描述:Micro-LED晶圓臺測試系統實(shí)現了對M-LED的綜合光電性能測試,是Micro-LED/Mini-LED企業(yè)研發(fā)、實(shí)驗的檢測設備。

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  • 更新時(shí)間:2024-09-30
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Micro-LED晶圓臺測試系統


隨著(zhù)Mini-LED晶圓臺測試系統和Micro-LED 晶圓臺測試系統(簡(jiǎn)稱(chēng)M-LED)尺?的?幅縮?,光通量的下降,檢測難度在不斷上升,檢測數量也在?幅增加,對其綜合光電性能的檢測也提出了更多更新的要求。為此,Aunion Tech推出了全新開(kāi)發(fā)的?主品牌晶圓級I-V-L-S綜合光電性能測試臺系統。 Micro-LED 晶圓臺測試系統可以?持蕞?10um尺?的Micro-LED的點(diǎn)亮測試;可以?持正裝或倒裝M-LED的測試;不僅能對單 顆M-LED進(jìn)?I-V-L(電流-電壓-亮度)曲線(xiàn)的測試,還能獲得?度、主波?DWL和光譜信息;不僅能觀(guān)察單顆LED?身的亮度、?度分布,還能實(shí)現對陣列M-LED的亮度、?度、波?均勻性分布進(jìn)?測量和分析。 Micro-LED 晶圓臺測試系統實(shí)現了對M-LED的綜合光電性能測試,是Micro-LED/Mini-LED企業(yè)研發(fā)、實(shí)驗的檢測設備。


M-LED的I-V-L-S綜合光電性能測試臺

• 顯微成像+探針點(diǎn)亮模塊:蕞??持10um尺?Micro-LED產(chǎn)品

• 超?量程的綜合光電性能測試

 - I-V-L-S測試集成電流、電壓、亮度、?度、主波?、光譜等多種信息

 - 可?持0.0001-1010 cd/m2 超?量程,完整測試M-LED的特性

 - ?持100pA到1A的超?量程測試

• 精密運?控制臺

• 隔振光學(xué)平臺


Micro-LED晶圓臺測試系統技術(shù)規格:


關(guān)于昊量光電:

上海昊量光電設備有限公司是光電產(chǎn)品專(zhuān)業(yè)代理商,產(chǎn)品包括各類(lèi)激光器、光電調制器、光學(xué)測量設備、光學(xué)元件等,涉及應用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫療、科學(xué)研究、國防、量子光學(xué)、生物顯微、物聯(lián)傳感、激光制造等;可為客戶(hù)提供完整的設備安裝,培訓,硬件開(kāi)發(fā),軟件開(kāi)發(fā),系統集成等服務(wù)。

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