金年会金字招牌诚信至上_干涉儀-上海昊量光電設備有限公司

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激光測量設備

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直接激光干涉圖形加工器
直接激光干涉圖形加工器可以利用脈沖激光簡(jiǎn)便地、高速地在大范圍區域形成周期性幾何形狀從而直接燒蝕材料表面。

型號：廠(chǎng)商性質(zhì)：代理商
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激光剪切散斑干涉系統——NDT無(wú)損檢測
激光剪切散斑干涉系統——NDT無(wú)損檢測是所有的光學(xué)模組和激光器集成在一個(gè)手持式，耐用和輕便的機殼中，接通電源，通過(guò)USB連接到電腦，就可以開(kāi)始檢測了。

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光纖法布里-珀luo干涉儀
光纖法布里-珀luo干涉儀系列產(chǎn)品基于具有平滑、均勻間隔傳輸峰的固定干涉儀設計。FFP 的設計簡(jiǎn)潔優(yōu)雅的關(guān)鍵在于其無(wú)透鏡全光纖結構。沒(méi)有準直光學(xué)器件或透鏡，消除了其他法布里-珀羅元件技術(shù)的缺陷，包括未對準、環(huán)境敏感性和外來(lái)模式。FFP 波器遵循 Airy 函數。工程師可以將其設計到 OEM 系統中，因為他們知道它將提供非常接近理論數學(xué)模型的結果。

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皮米級絕對距離測量干涉儀
皮米級絕對距離測量干涉儀通過(guò)將可調激光器的頻率鎖定到F-P干涉儀的的諧振頻率上，將干涉儀的位移測量轉換為頻率變化的測量。當F-P腔長(cháng)在變化時(shí)，其諧振峰的頻率也在發(fā)生變化，通過(guò)測量初始腔長(cháng)，初始頻率和頻率變化，就可實(shí)現測量腔長(cháng)。

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多波長(cháng)動(dòng)態(tài)干涉儀
Kaleo MultiWAVE多波長(cháng)動(dòng)態(tài)干涉儀同時(shí)可提供媲美Fizeau干涉儀測量精度，及動(dòng)態(tài)干涉儀的抗震性能。

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太赫茲掃描干涉儀
太赫茲掃描干涉儀主要用于測量窄帶太赫茲輻射的波長(cháng)和強度分布，同時(shí)也可用于脈沖和連續窄帶太赫茲輻射源。TSFPI由兩個(gè)半透明平行硅鏡組成，其中一個(gè)安裝在電機驅動(dòng)的線(xiàn)性致動(dòng)器上。

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KALEO多波長(cháng)激光干涉儀模塊
KALEO套件多波長(cháng)激光干涉儀模塊是用于光學(xué)計量的模塊化系統。它由多種相互兼容的模塊組合而成，可讓用戶(hù)搭建一個(gè)經(jīng)濟有效，體積緊湊且易于使用的完整光學(xué)測試系統。

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點(diǎn)衍射激光干涉儀
點(diǎn)衍射激光干涉儀: 絕對測量精度(Peak-to-valley): ± 0.6 nm (λ/1000) 分辨率(Peak-to-valley): 0.05 nm (λ/12000) 波前重復精度(RMS): 0.23 nm (λ/2800)

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quDIS皮米精度位移激光干涉儀
昊量光電推出的皮米精度位移干涉測量?jì)xquDIS是對納米級別的位移波動(dòng)進(jìn)行量測的理想儀器，基于其*的測量原理，相對距離的重復精度達到了50皮米。quDIS可同時(shí)支持三個(gè)測量通道，使其可以適用于任意的多軸測量中。quDIS在原理上同樣采用激光干涉法，不過(guò)與傳統激光干涉儀相比，其集成了法珀腔（Reference cavity）及飽和吸收氣室（GC）作為頻率校準參考，通過(guò)皮米精度位移激光干涉儀

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Xper WLI白光干涉儀
Xper WLI 是一款用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量的檢測儀器。它是以白光干涉技術(shù)為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過(guò)系統軟件對器件表面3D圖像進(jìn)行數據處理與分析，并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數，從而實(shí)現器件表面形貌3D測量的光學(xué)檢測儀器。白光干涉儀

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干涉儀.邁克爾遜干涉儀 FTIR用
在一個(gè)臂上增加一個(gè)移動(dòng)反光鏡以完成干涉儀，并允許光路差在零OPD附近變化。堅固的結構和對準的特點(diǎn)，意味著(zhù) INT 05 系列干涉儀很適合您更高精度的近紅外分析儀的應用。邁克爾遜干涉儀 FTIR用

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高精度位移測量?jì)x-激光干涉儀
昊量光電推出的PICOSCALE位移測量?jì)x產(chǎn)品是基于激光干涉方法設計的非接觸式位移和振動(dòng)測量設備。因為不需要物理接觸，所以測量不會(huì )影響物體。這尤其適用于較小的物體，它們的動(dòng)力學(xué)很容易受到傳統測量探頭的影響。微位移測量?jì)x廣泛應用于定位技術(shù)中，可以在pm分辨率下位移跟蹤定位。高精度位移測量?jì)x-激光干涉儀

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