Moku:Pro多儀器并行模式-輕松構建和配置您的測試臺

Moku:Pro最新發(fā)布多儀器并行模式，支持并行多通道可重構儀器。第一次，用戶(hù)可以實(shí)現在芯片上運行多個(gè)研究級儀器互聯(lián)。通過(guò)Moku:Pro 多儀器并行模式用戶(hù)可將儀器放置在四個(gè)虛擬“插槽"中，動(dòng)態(tài)添加或刪除 Moku:Pro 儀器到任何插槽。每個(gè)插槽都能夠連接至模擬輸入和輸出，讓您可以在單個(gè) Moku:Pro 上運行整套儀器。在此模式下運行的儀器可通過(guò)低延遲、實(shí)時(shí) 30 Gb/s 信號路徑相互連接以構建復雜的信號處理流程。模擬輸入、模擬輸出和相鄰儀器的連接能夠實(shí)現運行時(shí)配置。結合 Moku 云編譯（即將發(fā)布）和多儀器并行模式，Moku:Pro 重新定義了測試和測量?jì)x器的靈活性。

可配置儀器

• 任意波形發(fā)生器

• 頻率響應分析儀

• 鎖相放大器

• 示波器

• PID 控制器

• 頻譜分析儀

• 波形發(fā)生器

硬件亮點(diǎn)

卓yue的低頻噪聲性能:全輸入帶寬下的噪聲500 μV RM

板載高穩定時(shí)鐘 0.3 ppm

輸入到輸出延遲 < 650 ns

典型應用

自動(dòng)化測試序列

系統原型設計和仿真

閉環(huán)控制設計

光學(xué)計量學(xué)和光譜學(xué)

光學(xué)、成像和其他定制系統控制中心

量子計算

技術(shù)規格

四個(gè)模擬輸入通道

• 10位和18位ADC，具備隨頻率變化的信號混合功能
  

• 1.25 GSa/s 采樣率

• 輸入噪聲: 30 nV/√Hz @ 100 Hz

• 可選 300 MHz 或 600 MHz 模擬帶寬

• AC 或 DC耦合，輸入阻抗：50Ω 或 1MΩ

• 輸入范圍：400 mVpp、4 Vpp 或 40 Vpp




四個(gè)模擬輸出通道

• 16位，1.25 GSa/s DACs

• 輸出2 Vpp 高達 500 MHz, 10 Vpp 高達100 MHz










應用亮點(diǎn)

Moku:Pro 的 PID 控制器提供亞微秒的輸入和輸出延遲，非常適合高速閉環(huán)控制器應用。通過(guò)多儀器并行模式，可以實(shí)時(shí)PID控制器和頻率響應分析儀并行以觀(guān)察和測量控制器的傳遞函數和脈沖響應。還可以使用示波器和頻譜分析儀在時(shí)域和頻域中測量系統響應?？刂破髦械恼{整都會(huì )實(shí)時(shí)反映在監控儀器中。








「生成任意調制的信號」

通過(guò)結合任意波形發(fā)生器與多個(gè)波形發(fā)生器，Moku:Pro能夠輸出高穩定性的復雜波形。任意波形可以連接至波形發(fā)生器的輸入端作為調制源。頻率、相位和幅度調制也可以同時(shí)添加到信號中。這消除了查找表計算步驟并能更好的控制調制和輸出信號。示波器或頻譜分析儀可添加到其它插槽中測量信號。





「多諧波鎖相放大器」

Moku:Pro的多儀器并行模式能夠同時(shí)運行高達四個(gè)鎖相放大器。每一個(gè)鎖相放大器能在基波、二次或更高次諧波進(jìn)行解調。測量出的 R/θ 或 X/Y 分量也可以在最終儀器插槽中的示波器中進(jìn)行比較或輸出至模擬輸出端口。