一、測量?jì)x分類(lèi)

　　1.激光測厚儀

　　激光測厚儀是才采用了激光反射原理制造而成，屬于一種非接觸式的厚度測量?jì)x器，主要用來(lái)對各種零件以及機械表面的進(jìn)行微觀(guān)測量，從而得出物件的厚度。

　　并且該種測量?jì)x能夠與電腦終端相連接，直接將物體的厚度以數字形式進(jìn)行輸出，簡(jiǎn)便快捷，適用性高，在各行業(yè)都可以看見(jiàn)它的身影。

　　2.X射線(xiàn)厚度測量?jì)x

　　該型厚度測量?jì)x的原理是利用X射線(xiàn)子穿過(guò)物體之后，其強弱程度造成變化，并通過(guò)靈敏的感應元件和計算機對X射線(xiàn)的照射前后的強度進(jìn)行對比，也屬于一種非接觸式測量?jì)x器。該測量?jì)x器主要應用于有色金屬板加工和冶金行業(yè)。

　　3.膜厚測量?jì)x

　　膜厚主要對各種薄膜的厚度進(jìn)行測定，測量速度快、精度高，在薄膜制造業(yè)有著(zhù)很重要的應用。除此之外，它還具有作業(yè)位置靈活、數據輸出、測量單位自動(dòng)轉換等特性，更是方便了人們的測量工作。

　　4.超聲波測量?jì)x

　　超聲波測量?jì)x采用了聲波反射原理制作而成。當聲波抵達被測物件表面時(shí)，會(huì )被反射回來(lái)并通過(guò)測量?jì)x所接收，在測量?jì)x內部含有微型計算機，能夠計算聲波發(fā)出及反射后的時(shí)間差，之后通過(guò)一系列的計算來(lái)得出物體的厚度。

　　二、使用時(shí)的注意事項

　　1.零點(diǎn)校準

　　膜厚測量?jì)x在對薄膜厚度測量之前，需要進(jìn)行零點(diǎn)校準，對于校準的基體材料可以采用沒(méi)有涂層的材料進(jìn)行校驗，這樣可以在大程度上消除物體形狀以及表面的粗糙而帶來(lái)的誤差。

　　2.基體不宜過(guò)薄

　　在基體的選擇上不能選擇厚度過(guò)薄的集體材料，因為測量?jì)x可能無(wú)法測量出基體的厚度而造成了厚度測量精準度的下降。

　　在本文中跟大家詳細的介紹了膜厚測量?jì)x的分類(lèi)以及使用時(shí)的注意事項，希望大家日后使用測量?jì)x設備時(shí)可以注意這幾點(diǎn)，以便高效率的使用測量?jì)x設備。