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【應用案例】Moku:Pro簡(jiǎn)化雙色受激拉曼散射顯微鏡實(shí)驗應用案例Moku:Pro簡(jiǎn)化雙色受激拉曼散射顯微鏡實(shí)驗介紹在華盛頓大學(xué),研究人員致力于雙色受激拉曼散射(SRS)顯微鏡技術(shù)研究開(kāi)發(fā)化學(xué)成像工具，用于早期癌癥檢測和了解神經(jīng)退行性疾病進(jìn)展。實(shí)驗裝置通常包括多個(gè)復雜的高性能儀器,用于實(shí)時(shí)雙色SRS成像或兩個(gè)相距較遠的拉曼躍遷的同步成像?，F在，他們正在使用Moku:Pro鎖相放大器和多儀器并行模式，僅通過(guò)Moku:Pro一臺緊湊的多通道設備進(jìn)行多種實(shí)驗并捕捉低強度的SRS信號...
查看全文Moku云編譯+ChatGPT:客戶(hù)定制化需求的天花板Moku：pro不僅能夠解決大多數電學(xué)信號的測試和ji具難度的測量實(shí)驗，而且能夠支持jian端實(shí)驗，并能在設計具有du特要求的先jin產(chǎn)品時(shí)，具有優(yōu)xiu的表現?？茖W(xué)家和工程師們經(jīng)常會(huì )在軟件中進(jìn)行方便的離線(xiàn)模擬或數據處理，此時(shí)他們會(huì )通過(guò)用戶(hù)可編程FPGA找到更高性能的解決方案。然而，盡管它們很有用，但這些解決方案有時(shí)候也會(huì )很復雜且難以實(shí)現。MokuCloudCompile(MCC)云編譯為熟悉FPGA編程的用戶(hù)xiao除了...
查看全文光學(xué)成像要通過(guò)光學(xué)零件的折射和反射來(lái)實(shí)現，決定一種材料能否用來(lái)制造光學(xué)零件，要看它對要求成像的波段是否透明，或者在反射的情況下是否具有足夠高的反射率。對于透射光學(xué)零件來(lái)說(shuō)，透射材料的特性除了透過(guò)率之外，還有它對各種特征譜線(xiàn)的折射率，其中以D或d線(xiàn)的折射率nD或nd以及F線(xiàn)和C線(xiàn)的折射率差nF-nc作為其主要的光學(xué)性能參數，這是因為F線(xiàn)和C線(xiàn)接近人眼光譜靈敏極限的兩端，而D線(xiàn)或d線(xiàn)在其中間，接近人眼靈敏的波長(cháng)，nd稱(chēng)為平均折射率，nF-nc稱(chēng)為平均色散。此外，將?d=(nd-1...
查看全文在一個(gè)簡(jiǎn)單的激光器中，每一個(gè)模式都獨立地振蕩，彼此之間沒(méi)有固定的關(guān)系，本質(zhì)上就像一組獨立的激光器，它們都以略微不同的頻率發(fā)光。每種模式中光波的各個(gè)相位都不是固定的，可能會(huì )因激光器材料的熱變化等因素而隨機變化。在只有少數振蕩模式的激光器中，模式之間的干擾會(huì )導致激光輸出中的拍頻效應，導致強度波動(dòng)；在具有數千個(gè)模式的激光器中，這些干擾效應趨于平均到接近恒定的輸出強度。如果不是獨立振蕩，而是每個(gè)模式運行時(shí)與其他模式之間保持固定的相位差，則激光輸出的行為會(huì )截然不同。激光模式將周期性地相...
查看全文點(diǎn)衍射干涉儀的精度檢驗方法點(diǎn)衍射干涉儀（PointDiffractionInterferometer，PDI）是一種基于衍射干涉原理的光學(xué)測量設備。它利用激光束小孔后產(chǎn)生接近理想的點(diǎn)光源對物體表面進(jìn)行測量，可以實(shí)現對物體形狀、表面粗糙度、折射率等參數的高精度測量。點(diǎn)衍射干涉儀不需要標準參考件，可以用于超高精度面型的檢測，是一種非常重要的高精度測量?jì)x器。1.1測試光路測試系統主要由D7點(diǎn)衍射干涉儀主機，準直器，5mm口徑鋁鏡，光學(xué)平臺等構成。1.2測試環(huán)境溫度：21℃&plus...
查看全文非接觸式金屬膜厚測量?jì)x是一種常見(jiàn)的表面分析儀器，其原理基于光學(xué)干涉或者電磁感應等技術(shù)。相比于傳統的劃痕法和化學(xué)分析法，非接觸式金屬膜厚測量?jì)x具有高精度、快速和不破壞測試樣品等優(yōu)點(diǎn)，廣泛應用于材料科學(xué)、電子工程、光學(xué)制造等領(lǐng)域。原理是利用光學(xué)干涉原理或電磁感應原理來(lái)測定薄膜的厚度。其中，光學(xué)干涉法是通過(guò)反射光線(xiàn)之間的干涉來(lái)測量薄膜的厚度，而電磁感應法則是依靠磁場(chǎng)的變化來(lái)檢測薄膜的存在和厚度。這些原理都是建立在測量薄膜對光線(xiàn)或磁場(chǎng)的影響上，通過(guò)實(shí)時(shí)監測信號變化來(lái)計算出薄膜的厚度。...
查看全文Upto98%光利用率——鍍介質(zhì)鏡型純相位高速高損傷閾值SLM！液晶空間光調制器（SLM）可以將數字化數據轉換為適合各種應用的相干光學(xué)信息，包括雙光子/三光子顯微成像、光鑷、自適應光學(xué)、湍流模擬、光計算、光遺傳學(xué)和散射介質(zhì)成像等應用。這些應用需要能夠輕松快速地改變相干光束波前的調制器。通過(guò)將液晶材料的電光性能特征與基于硅的數字電路相結合，MeadowlarkOptics現在提供了高分辨率的SLM，這些SLM還具有物理緊湊性和高光學(xué)xiao率。圖一：緊湊的HSP1K（1024×...
查看全文膜厚測量?jì)x主要采用了X射線(xiàn)熒光光譜技術(shù)（XRF技術(shù)），通過(guò)發(fā)射出的X射線(xiàn)來(lái)對材料內部的分子結構進(jìn)行分析，從而得到材料的厚度和組成。X射線(xiàn)通過(guò)材料后，與材料中的元素反應并產(chǎn)生熒光信號，該熒光信號的波長(cháng)和強度反映了樣品中的元素種類(lèi)和含量。通過(guò)這種方式來(lái)測量薄膜的厚度以及成分。應用場(chǎng)景：1、半導體加工在半導體制造業(yè)中，不同工藝步驟所涉及的膜厚以及成分都不同，需要采用高靈敏度的儀器來(lái)進(jìn)行檢測。膜厚測量?jì)x能夠精確測量超薄膜，對后續工序制定提供參考。2、金屬材料檢測在金屬材料制造業(yè)中，需...
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